RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE ERFREUT SICH IMMER STÄRKERER BELIEBTHEIT

Mit einem modernen Rasterelektronenmikroskop der Firma ZEISS bietet imq ein innovatives Verfahren für die Untersuchung von Oberflächen an. Das leistungsfähige Gerät kann die Oberflächenstrukturen und die chemische Zusammensetzung in Bereichen weit unter einem Mikrometer darstellen. Damit sind Qualitätsprüfungen an hochpräzisen Bauteilen, aber auch die Analyse von Bruchflächen zur Aufklärung von Schadensfällen oder das Auffinden von Korrosionsursachen möglich. Im letzten Jahr wurde das Auftragsvolumen im Bereich Oberflächenanalytik verdoppelt.