Wenn Qualität sichtbar wird | Oberflächenanalytik mittels REM/EDX
Was zeigt die Oberflächenanalytik mit REM und EDX?
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) macht kleinste Strukturen und Veränderungen auf Oberflächen im Mikrometer- und Nanometerbereich sichtbar.
Ergänzend ermöglicht die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) eine lokale Analyse der Elementzusammensetzung. Auffällige Bereiche können so nicht nur sichtbar gemacht, sondern auch genauer eingeordnet werden.
Typische Einsatzfelder
- Untersuchung von Bruchflächen, Rissen und Korrosionsschäden
- Analyse von Partikeln, Rückständen und Verunreinigungen
- Bewertung von Beschichtungen, dünnen Schichten und Haftungsproblemen
- Erkennen von Poren, Einschlüssen und Gefügeveränderungen
- Restschmutz- und Schadensanalysen
Vorteile und Herausforderungen
Die Kombination aus REM und EDX verbindet die detaillierte Darstellung einer Oberfläche mit Informationen über ihre Elementzusammensetzung. So lässt sich beispielsweise klären, ob eine Auffälligkeit zum Werkstoff gehört oder durch Fremdstoffe, Ablagerungen oder Korrosionsprodukte entstanden ist.
Auch nichtleitfähige Proben können im Niedervakuumbetrieb ohne zusätzliche leitfähige Beschichtung untersucht werden.
Für aussagekräftige Ergebnisse sind die Auswahl geeigneter Untersuchungsbereiche und eine fachgerechte Bewertung entscheidend. Die EDX liefert dabei eine lokale Elementanalyse und ersetzt keine vollständige chemische Analyse des Werkstoffs.
Fazit
REM und EDX machen kleinste Auffälligkeiten sichtbar und helfen, deren Ursache besser zu verstehen – besonders bei Schadensanalysen, Qualitätsfragen und der gezielten Untersuchung von Oberflächen.